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冠层分析系统
型号:TOP-1301
产品简介:
冠层分析系统可广泛应用于农业生产和农业科研,为进行冠层光能资源调查,测量植物冠层中光线的拦截,研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系.
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冠层分析系统产品简介
  冠层分析系统可广泛应用于农业生产和农业科研,为进行冠层光能资源调查,测量植物冠层中光线的拦截,研究作物的生长发育、产量品质与光能利用间的关系.
冠层分析系统参数
1.探测器工作区域:1000x13mm宽,传感器间距15.6mm
2.探测器光谱响应:400-700nm (PAR);
3.探测器测量时间:120ms;
4.探测器分辨率:0.3μmol. m-2.s-1;
5.探测器最大读数:2500μmol.m-2.s-1
6.操作温度:0 - 60 °C;
7.BFS电缆长度:标准为7米,可扩展到100米;
8.内存:2M内存,包含程序;1600K RAM 可用于储存数据;
9.接口:RS232,9针母口 ’D’ 连接口;
10.BF3光谱响应范围:PAR(400-700nm);
11.RPDA1操作系统:Windows Mobile 6;
12.RPDA1显示项:LAI、所有探头的单独读数、PAR平均值;
13.RPDA1工作环境-30℃-60℃,1.2m的掉落测试;
14.RPDA1电源:充电电池,可连续工作12小时;
15.RPDA1存储空间:大于100MB可用;
冠层分析系统基本功能及使用要求:
适用于森林及低矮植物冠层测量;广泛应用于植物研究,农业,研究植物冠层内部的光照辐射透过情况,研究植物的生长发育、人工栽培管理、产量品质与光能利用间的关系。
1.工作环境:0℃~50℃,相对湿度0~100%RH(没有水汽凝结)
2.操作:镜头自动水平,一次成像,非破坏性的获取冠层数字高精度彩色图像;测量不受天气、光线影响,无需天空空白对照测量。

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