2025-09-05大豆表型检测仪
产品简介：大豆表型检测仪可以测量大豆夹角，茎粗，总粒数和千粒重等指标，是一款利用图象来分析大豆表型相关性状的检测系统，具有成像清晰，数粒准确的特点，广泛适用于各农科院，高校，育种公司，种子站的大豆研究。
产品型号：TPD-BX-1
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产品简介：大豆表型检测仪可以测量大豆夹角，茎粗，总粒数和千粒重等指标，是一款利用图象来分析大豆表型相关性状的检测系统，具有成像清晰，数粒准确的特点，广泛适用于各农科院，高校，育种公司，种子站的大豆研究。
产品型号：TPD-BX-1
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产品简介：玉米表型检测仪系统可以测量凸包面积、外接矩形面积、长宽比、侧视角紧凑度、侧视角投影面积、株高、茎秆节间距和茎粗、叶长、叶片弯曲度、茎叶夹角和千粒重等指标，是研究玉米表型参数中的产量相关性状参数的检测工具。
产品型号：TPY-BX-1
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产品简介：小麦表型检测系统利用图像识别和深度学习技术，通过轮廓分析、形态学分析、模式分析学习等，提取相关有效特征，采用先进的深度神经网络方法，在小麦大数据库建立基础上，建立高精度识别模型，完成小麦表型性状的测量。该仪器可测量小麦株高、夹角、茎粗、小麦亩穗数、理论产量、穗长、小穗数、总粒数和千粒重等指标，这些参数指标在小麦品种筛选、小麦产量预测、麦穗动态发育、基因定位、功能解析和小麦遗传育种研究中发挥着至关重要的作用。
产品型号：TPM-BX-1
产品简介：水稻表型检测仪可测量水稻亩穗数、理论产量、水稻穗粒数、穗长、水稻剑叶夹角、茎粗、水稻株高、一/二次枝梗数量和长度、各枝梗对应的穗粒数、着粒密度、穗长、总粒数和千粒重等指标，这些表型参数为水稻品种筛选、水稻产量预测、稻穗动态发育、基因定位、功能解析和水稻遗传育种中发挥着至关重要的作用。
产品型号：TPS-BX-1
产品简介：植物株高测量仪可实现快速、高效的对水稻、小麦、油菜、玉米等作物的株高测量，同时可满足对玉米穗位的测量。产品集测量与记录于一体，在测量的同时便完成了数据的记录，数据可通过U盘导出，方便数据整理与分析。
产品型号：TPDM-G-1
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产品简介：麦穗形态测量仪基于机器视觉技术，利用手机摄像头获取麦穗的图像，利用图像处理算法现场分析，获取麦穗形态参数，它具有AI智能识别利用透视变化矫正图像、光照补偿算法、距离变化等技术，自动计算出小麦的穗长。一次测定，可同时获得麦穗穗长、小穗数等多项指标，测量的数据可通过无线网络传输至服务器。
产品型号：TPMS-X-1
产品简介：玉米株型分析仪是一款基于图像识别技术的玉米株型测量设备，专门用来测量分析玉米株型相关参数，可用于高产育种和理想株型筛选等领域。通过使用手机拍摄获取玉米株型图像，并通过算法分析来实时获取玉米株高等数据。与传统人工相比，可以有效避免人工读数的误差，提高数据的准确性。同时仪器自带管理云平台，分析的玉米株型相关数据可直接上传至平台中，用户能够通过电脑网页或手机查看相关数据！
产品型号：TPMT-X-1
产品简介：稻穗形态测量仪基于机器视觉技术，利用手机摄像头获取稻穗的图像，利用图像处理算法现场分析，获取稻穗形态参数，AI智能识别利用透视变化矫正图像、光照补偿算法、距离变化等技术，自动计算出水稻的穗长。
产品型号：TPDS-X-1
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